[21p-133-1~12] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[21p-133-7] Optimization for Recovery Test of Potential Induced Degradation on Crystalline Silicon PV Modules by Applications of Reverse Bias Pulse Voltage

〇Kiyoshirou Takada¹, Htay Win¹, Go Sian Huai¹, Aster Rahayu¹, Fumitaka Ohashi¹, Yasushi Sobajima¹, Hiroki Yoshida¹, Yukiko Hara², Atsushi Matsuda², Shuichi Nonomura¹ (1.Gifu Univ., 2.AIST)

Keywords:bulk crystalline silicon solar cells, analysis, characterization, modules, testing, standardization

我々はこれまでに、電圧誘起劣化現象が起きた太陽電池モジュールに対して、 pn 接合に逆バイアスパルス電圧を印加することにより発電特性が回復することを見出した。これらの技術の実用化を目指し、実際の劣化現象により近い状況を再現するため、直列接続された一部のセルが劣化したモジュールに対し、逆バイアスパルス電圧印加による回復試験を応用し、回復条件の最適化を行った。