[21p-221A-1~6] 9.3 ナノエレクトロニクス

[21p-221A-5] Au原子接合のコンダクタンス制御における3つの実験パラメータでのアニーリングマシンによる解探索

〇平田 鷹介¹、櫻井 拓哉¹、酒井 正太郎¹、白樫 淳一¹ (1.東京農工大院工)

キーワード：イジングスピンモデル、フィードバック制御型エレクトロマイグレーション、量子化コンダクタンス