2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.5 イオンビーム一般

[21p-222-1~8] 7.5 イオンビーム一般

2018年9月21日(金) 13:15 〜 15:15 222 (222)

豊田 紀章(兵庫県立大)、後藤 康仁(京大)

13:15 〜 13:30

[21p-222-1] 電子線照射中におけるTEM内Ar雰囲気に発生するイオン環境

徳永 智春1、山本 悠太2、樋口 公孝2、河上 匠1、久野 孝平1、山本 剛久1 (1.名大工、2.名大未来材料)

キーワード:ガス環境透過電子顕微鏡、電子線照射、イオン環境