[21p-235-1~12] 7.1 X線技術

[21p-235-8] 共鳴硬Ｘ線光電子分光計測技術の開発と展望

〇保井 晃¹、河村 直己¹、池永 英司^1,2、水牧 仁一朗¹、筒井 智嗣¹、三村 功次郎³ (1.JASRI、2.名大 IMaSS、3.阪府大院工)

キーワード：硬Ｘ線光電子分光、光触媒、強相関電子系

本開発は、硬X 線光電子分光（HAXPES）計測において入射エネルギー掃引を可能にし、軟X線領域で行われている共鳴計測を硬X線領域に拡張することを目的としている。この共鳴HAXPES計測は、HAXPESのバルク・埋もれた界面における化学結合状態や価数などの電子状態解析が可能であるという特徴に、さらに元素軌道・原子価数選択性が加わることで、より詳細な電子物性解析を可能にする。