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[21p-PB6-2] 第一原理計算によるa-, m-面上の4H-SiC/SiO2 界面モデル構造の構築
キーワード:SiC、酸化膜、シミュレーション
ワイドギャップ半導体のSiC は高い移動度などの優れた特性を示すことより、パワーデバイスへの応用が期待されている。近年、a-面(11-20)やm-面(1-100)の利用が検討され、活発に実験が行われているが、これまでa-面やm-面についての理論計算による解析はほとんど行われていない。そこで、第一原理計算によりa-面、m-面での4HSiC/SiO2 界面モデル構造の作成を試みた。