09:45 〜 10:00 [17a-F206-4] 光電子収率分光法による熱酸化SiO2/Si構造の電子状態計測 〇大田 晃生1、今川 拓哉1、池田 弥央1、牧原 克典1、宮崎 誠一1 (1.名大院工)