2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[17a-C101-1~11] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2018年3月17日(土) 09:30 〜 12:30 C101 (52-101)

野口 隆(琉球大)

11:15 〜 11:30

[17a-C101-7] (100) 配向 CLC 結晶成長への双晶発生の影響

佐々木 伸夫1,2、Muhammad Arif2、浦岡 行治2 (1.Sasaki Consulting、2.奈良先端大)

キーワード:低温ポリSi、CLC

CLC では、低パワーでは(100) 表面配向の単結晶Si薄膜を成長させることができるが、パワーを増加させると、スキャン方向に(110)、膜内横方向に(111) 方位を持つドメインが発生することがある。ドメインが発生しているとき、双晶粒界を調べると、ドメイン領域に顕著な双晶の発生を見出した。