[17p-D102-1~19] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[17p-D102-1] Degradation Analysis of Phosphorescnt OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometry

〇Miku Takei¹, Akio Miyazato², Heisuke Sakai¹, Hideyuki Murata¹ (1.JAIST, 2.Nanocenter)

Keywords:OLED, FT-ICR-MS, Degradation analysis

本研究ではIr(ppy)₃を発光材料に用いたリン光有機EL素子の劣化解析にFT-ICR-MSを応用した。その結果、Kondakov等が報告したホスト材料由来の劣化物に加えて異なる劣化物の検出に成功したので報告する。