[17p-D102-1~19] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

△ [17p-D102-3] Mass Spectrometry Imaging of Degraded Organic Light Emitting Diode

〇Saki Shigematsu¹, Akio Miyazato², Keiko Miyabayashi³, Heisuke Sakai¹, Hideyuki Murata¹ (1.JAIST Grad. School of Adv. Sci., 2.JAIST Nanocenter, 3.Shizuoka Univ.)

Keywords:OLED, FT-ICR-MS, degradation products

本研究では、劣化前後の有機EL素子のフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析イメージング(FT-ICR-MSI)を初めて測定した。その結果、素子面内の劣化状況を反映して、測定領域で異なった劣化化合物を検出することに成功した。最も輝度劣化の進行した領域で検出された物質の精密質量から、劣化生成物の化学構造を決定したので報告する。