[17p-D102-1~19] 12.4 有機EL・トランジスタ

△ [17p-D102-3] 駆動劣化させた有機EL素子の質量分析イメージング

〇重松 沙樹¹、宮里 朗夫²、宮林 恵子³、酒井 平祐¹、村田 英幸¹ (1.北陸先端大 先端科学技術、2.北陸先端大 ナノセンター、3.静岡大院 総合科学技術)

キーワード：有機EL、FT-ICR-MS、劣化生成物

本研究では、劣化前後の有機EL素子のフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析イメージング(FT-ICR-MSI)を初めて測定した。その結果、素子面内の劣化状況を反映して、測定領域で異なった劣化化合物を検出することに成功した。最も輝度劣化の進行した領域で検出された物質の精密質量から、劣化生成物の化学構造を決定したので報告する。