[17p-F210-1~14] 9.3 ナノエレクトロニクス

△ [17p-F210-10] Au原子接合の通電狭窄化におけるイジングスピンモデルによる複数の実験パラメータでの同時最適化

〇平田 鷹介¹、酒井 正太郎¹、岩田 侑馬¹、櫻井 拓哉¹、白樫 淳一¹ (1.東京農工大院工)

キーワード：イジングスピンモデル、フィードバック制御型エレクトロマイグレーション、量子化コンダクタンス