[18a-F104-1~12] 12.2 評価・基礎物性

△ [18a-F104-9] MIS-CELIV法による正孔輸送材料NPB薄膜中の移動度評価

〇片桐 千帆^1,2、鈴木 友菜²、末延 知義²、中山 健一^1,2 (1.山形大院理工、2.阪大院工)

キーワード：電荷移動度、MIS-CELIV

MIS-CELIV法とは、金属、絶縁層、半導体層を積層したMIS構造素子の絶縁層界面に電荷を蓄積させ、その電荷取出しに由来した過渡電流から移動度を求める手法で、有機太陽電池の電子・正孔移動度の測定法として注目され始めている。本研究では、MIS-CELIV法を用いて有機EL正孔輸送材料であるNPBの移動度評価を行うとともに、従来から広く用いられてきたspace-charge limited current (SCLC) 測定の結果と比較することで、MIS-CELIV法による移動度解析の信頼性について議論を行った。