The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

Presentation information

Poster presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7 Beam Technology and Nanofabrication(Poster)

[18a-P3-1~14] 7 Beam Technology and Nanofabrication(Poster)

Sun. Mar 18, 2018 9:30 AM - 11:30 AM P3 (P)

9:30 AM - 11:30 AM

[18a-P3-2] Development of 2000 K-Class High-Temperature In Situ Transmission Electron Microscopy

〇(DC)Manabu Tezura1, Takuya Okamoto1, Murakami Koichi1, Kizuka Tokushi1 (1.Univ. Tsukuba)

Keywords:In Situ TEM, Heat resistant material

固体に作用する外力は、物体の形状を変形させ、場合によっては破壊・破断を起こさせる。最先端の耐熱合金や遮熱セラミックスなどの耐熱構造材料開発では、その材料が実際に使用される高温環境を再現し、破壊や変形が生じるときの原因と過程を原子レベルで明らかにすることが求められている。これまで著者らの研究室では、機械的変形過程を原子レベルで直接観察し、同時に応力-歪み関係を調べられるその場透過電子顕微鏡法と、2000 K級の加熱を可能とする試料ステージを用いた高温組織その場観察技術を開発してきた。本報告では、この両者の要素を組み入れたその場電子顕微鏡法、すなわち、2000 K級の温度で材料変形をその場観察できる透過電子顕微鏡法について紹介する。