2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[18p-C102-1~16] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2018年3月18日(日) 13:45 〜 18:00 C102 (52-102)

内藤 泰久(産総研)、新宮原 正三(関西大)

13:45 〜 14:00

[18p-C102-1] Si基板上のスパッタ堆積Si酸化膜の抵抗変化機構の考察

大村 泰久1、山口 凛太郎1、佐藤 伸吾1 (1.関西大)

キーワード:シリコン酸化膜、スパッタ堆積、Si 析出物

単結晶Si基板上にスパッタ堆積したシリコン酸化膜の抵抗変化機構に関する新しい見解を示す。サブオキサイドの存在がが主要な条件ではなく、金属シリコン析出物が必要であることを示す。