[18p-D101-1~17] 16.3 シリコン系太陽電池

[18p-D101-15] p型結晶シリコン太陽電池の電圧誘起劣化モデルの一検討

〇吉田 弘樹¹、大橋 史隆¹、原 由希子²、城内 紗千子²、増田 淳^2,1、野々村 修一¹ (1.岐大工、2.産総研)

キーワード：電圧誘起劣化、回復

太陽電池モジュールにおける電圧誘起劣化(potential induced degradation: PID)発生について幾つかのメカニズムが提案されているが，その詳細は明確にはなっていない。筆者らはp型多結晶シリコン太陽電池を光で加熱するPID回復方法が，従来の加熱方法より6倍程回復速度を高められることを示した。また，逆バイアス・電流パルスで劣化箇所を局所加熱することによる，10 msオーダーの極めて高速なPID回復現象を見出した。外部印加バイアス電圧に起因するpn接合部の電界と空乏層がPID現象に影響しているものと推定し，検討と実験を行った。