The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.7 Crystal characterization, impurities and crystal defects

[18p-D103-1~23] 15.7 Crystal characterization, impurities and crystal defects

Sun. Mar 18, 2018 1:15 PM - 7:30 PM D103 (56-103)

Kentaro Kutsukake(Nagoya Univ.), Yutaka Ohno(Tohoku Univ.), Hiroaki Kariyazaki(GWJ), Shotaro Takeuchi(Ohsaka Univ.)

6:30 PM - 6:45 PM

[18p-D103-20] Detection of non-radiative recombination level in UV-LED by irradiation of forbidden band excitation light.

Ken Matsuda1, Norihiko Kamata1, Dulal Haque1, Ismail Hossain1, Takeshi Fukuda1 (1.Saitma Univ.)

Keywords:UV-LED, non-radiative recombination level

UV-LEDは従来のHgランプに対して小型で環境に優しく、長寿命、低電力化の可能性を持つ。近年の短波長化と効率改善に伴って殺菌・洗浄や微細加工等への応用が進められている。しかし高Al組成AlxGa1-xNの成長に伴い高密度な欠陥準位が発生し非発光再結合(NRR)準位として作用するため、素子効率、寿命共に未だ改善の余地が大きい。欠陥準位低減のため、禁制帯内励起(Below-Gap Excitation:BGE)光を用いた二波長励起PL法の原理に基づき、LED構造でNRR準位の検出を行った。