2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[18p-D103-1~23] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2018年3月18日(日) 13:15 〜 19:30 D103 (56-103)

沓掛 健太朗(名大)、大野 裕(東北大)、仮屋崎 弘昭(GWJ)、竹内 正太郎(阪大)

19:00 〜 19:15

[18p-D103-22] シリコン結晶中の低濃度炭素の測定
(XIV)1x1013cm-3までの赤外用人工ブロックゲージの作製と共有

井上 直久1,2、河村 裕一2 (1.東京農工大学、2.大阪府立大学)

キーワード:FZシリコン結晶、炭素不純物濃度測定、赤外吸収

第二世代赤外吸収法(電子線照射人工参照試料とフォノン吸収妨害対策のスペクトル処理(3点ベースライン)と高性能装置の使用)によって世界の先進ポリシリコンメーカで濃度測定用のpoly-FZ結晶の約1013cm-3までの測定を達成した。電子線照射により濃度の知られた標準試料の最低濃度2x1015cm-3 から1x1013cm-3までの間の任意の試料を作製し、標準試料を用いた較正を行い、ポリシリコンメーカや分析サービス会社と共有し、各社の生産現場での感度精度を向上させた。