2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[18p-P11-1~13] 12.2 評価・基礎物性

2018年3月18日(日) 16:00 〜 18:00 P11 (ベルサール高田馬場)

16:00 〜 18:00

[18p-P11-1] EMIM TFSIの電界印加XAFSその場測定

〇圓谷 志郎1、本田 充紀2、Tomilin Felix3、李 松田1、楢本 洋1、Avramov Pavel3,4、境 誠司1 (1.量子機構、2.原子力機構、3.シベリア連邦大、4.慶北大)

キーワード：X線吸収分光、イオン液体