2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[18p-P11-1~13] 12.2 評価・基礎物性

2018年3月18日(日) 16:00 〜 18:00 P11 (ベルサール高田馬場)

16:00 〜 18:00

[18p-P11-11] フレキシブルフィルム上銀配線についての曲げ劣化特性の温度依存性評価

前田 和紀1、佐々木 寿朗2、二谷 真司1、柏木 行康1、舘 秀樹1、宇野 真由美1 (1.大阪技術研、2.ユアサシステム機器)

キーワード:屈曲耐久性、フレキシブル配線、印刷配線

フレキシブルデバイスのための金属配線の繰り返し曲げに対する耐久特性を調べるために、銀薄膜からなる配線パターンを作製し、屈曲試験に対する耐性について温度を変化させて評価した。配線パターンは、蒸着法とスクリーン印刷法の両方を用いて作製した。その結果、いずれの場合でも室温よりも80℃程度の高温領域で耐久性が向上した。その要因について、試験前後の配線における表面・断面観察などから考察し、報告する。