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[18p-P5-7] Al2O3成膜マイクロポアを用いた単一粒子検出
キーワード:マイクロポア、原子層堆積法
固体マイクロポアデバイスの表面に原子層堆積法(ALD)を用いてAl2O3膜を1 nm~6 nmの範囲で成膜したデバイスを作製した。このデバイスを用いて、単粒子がポアを通過する際のイオン電流変化を計測し、各膜厚におけるシグナルの大きさ及び検出頻度の変化について検証した。φ0.78 μmカルボキシ基修飾ポリスチレン粒子を用いた場合、膜厚に応じてシグナルの大きさは変化した。