[18p-P9-1~34] 3.12 ナノ領域光科学･近接場光学

[18p-P9-29] ケルビンプローブ顕微鏡によるホットエレクトロン可視化の検討

〇(M2)江崎 智太郎¹、松谷 晃宏²、西岡 國生²、佐藤 美那²、岡本 隆之³、磯部 敏宏¹、中島 章¹、松下 祥子¹ (1.東工大材料、2.東工大技術部マイクロプロセス部門、3.理研)

キーワード：ケルビンプローブ顕微鏡、ホットエレクトロン

本研究は、ケルビンプローブフォース顕微鏡(KFM)を用いた電場増強の直接観察と定量的な評価を目的とした。電子線描画を用いて三種類の金ナノ円盤配列体(単量体、二量体、四量体)を作製した。それらに対して光照射下での表面電位を測定し、系統的に波長依存、偏光依存、配列依存を議論する。各構造体で固有の表面電位の変化を確認し、これらについて定量的な評価を試みた。