2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[19a-A304-1~11] 2.3 放射線応用・発生装置・新技術

2018年3月19日(月) 09:00 〜 11:45 A304 (54-304)

富田 英生(名大)

10:00 〜 10:15

[19a-A304-5] 平面型transXend検出器を用いた簡易CT測定法の研究

〇(M1C)戸城 聡太1 (1.京大院工)

キーワード:X線断層撮影

コンピュータ断層撮影(Computed Tomography:CT)はがんの発見に非常に有用であるが、被ばく量が多いという欠点がある。低被ばく量CT撮影が実現し定期健康診断に導入できれば、がんの早期発見に効果的である。我々は積層型transXend検出器とペンシルビームX線を用いた低被ばく簡易CTを実施した。しかしこの測定には時間を要するので、将来の人体応用を視野に入れ、今回フラットパネル検出器(FPD)と金属フィルタを用いた二次元transXend検出器を考案した。