The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.4 III-V-group nitride crystals

[19a-E202-1~10] 15.4 III-V-group nitride crystals

Mon. Mar 19, 2018 9:00 AM - 11:45 AM E202 (57-202)

Atsushi Kobayashi(Univ. of Tokyo), Hiroto Sekiguchi(Toyohashi University of Technology)

11:30 AM - 11:45 AM

[19a-E202-10] HFET photosensors using GaInN channel layer

Megumi Sakata1, Ushida Saki1, Motoaki Iwaya1, Satoshi Kamiyama1, Tetsuya Takeuchi1,2 (1.Meijo Univ., 2.Nagoya Univ.Akasaki Research Center)

Keywords:semiconductor

可視光通信には、従来のSi-PDなどに比べて波長選択性が高く、高感度な光センサの実現が必要である。本研究ではGaInNチャネル層を用いたHFET型可視光センサにより着目した。従来のHFET型光センサのGaInNチャネル層のIn組成の増加により受光端はシフトし、450 nmにおいての受光感度は1.53×10 A/W、S/N比は2.50×103と高感度になることを明らかとした。