[19a-F210-1~9] CS5 6.6 プローブ顕微鏡,12.2 評価・基礎物性のコードシェアセッション

[19a-F210-4] 非接触式原子間力顕微鏡によるCu(001)表面上のヘプタヘリセンのキラル識別

〇塩足 亮隼¹、田中 孝市¹、中江 隆博²、森 重樹³、奥島 鉄雄³、宇野 英満³、坂口 浩司²、杉本 宜昭¹ (1.東大新領域、2.京大エネ研、3.愛媛大)

キーワード：原子間力顕微鏡、キラル分子、走査トンネル顕微鏡