[19p-B201-1~21] 3.3 情報フォトニクス・画像工学

[19p-B201-4] 電気感受率虚部の変調による体積ホログラム中の光電磁場解析

〇田上 哲史¹、茨田 大輔^1,2、谷田貝 豊彦² (1.宇都宮大学　院工、2.宇大CORE)

キーワード：ホログラフィックメモリ、電磁場解析

ホログラフィックメモリは, 体積ホログラムを媒体に記録することで一つの場所に異なるデータを重ねて記録し再生することができる. しかしながら, データ再生時におけるノイズは情報の再現性に影響を与えるため、ノイズ評価のための電磁場解析が必要となる. 本研究では、記録は媒体内の電気感受率の虚部が変調されるとし、パラメータを導入しその過程におけるシステムを解析関数で表現した光電磁場解析を提案する.