[19p-F210-1~16] 6.6 Probe Microscopy

[19p-F210-1] Energy levels of atomic orbitals analyzed by atomic force microscopy

〇Yoshiaki Sugimoto¹, Jo Onoda¹, Ondracek Martin², Jelinek Pavel² (1.Univ. Tokyo, 2.ASCR)

Keywords:atomic force microscopy

超高真空AFM を用いた2 原子間に働く1 対1 の化学結合エネルギーの測定について考察する。得られたデータを分子軌道法によって解析することにより、表面の個々の原子の軌道準位を見積もることができる。