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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS4 6.5 表⾯物理・真空,7.6 原⼦・分⼦線およびビーム関連新技術のコードシェアセッション

[19p-F214-1~12] CS4 6.5 表面物理・真空,7.6 原子・分子線およびビーム関連新技術のコードシェアセッション

2018年3月19日(月) 13:45 〜 17:00 F214 (61-214)

吉越章隆(原子力機構)、武田さくら(奈良先端大)、吉村雅満(豊田工大)

15:00 〜 15:15

[19p-F214-6] Ni(110)上のグラフェンのLEEM観察

〇鈴木雅彦¹、石田暢之¹、倉橋光紀¹、山内泰¹、藤田大介¹、安江常夫²、越川孝範² (1.物材機構、2.大阪電通大)

キーワード：低エネルギー電子顕微鏡、グラフェン