[19p-F310-1~15] 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

[19p-F310-11] Convolution analyses of the near-field light distribution at a nanoslit obtained from SNOM measurements

〇Ataru Matsushita¹, Kento Kishida¹ (1.Tokyo Institute of Technology)

Keywords:photoics, Near-Field, SNOM

原子センシング用近接場光ナノスリットの空間分解能を冷却原子のド・ブロイ波長に匹敵する30 nm以上に高めるために，スリットエッジの急峻化を進めている．一方SNOM観察ではプローブによる電磁場の散乱が原因となるノイズが観測上の問題となっている．今回このスリット上に誘起される近接場光におけるコンボリューション解析をフーリエ逆変換で行い、SNOM観察時のプローブによる散乱の影響を評価したので報告する．