2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

[19p-F310-1~15] 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

2018年3月19日(月) 13:30 〜 17:30 F310 (61-310)

伊藤 民武(産総研)、岡本 敏弘(徳島大)

16:15 〜 16:30

[19p-F310-11] SNOM計測ナノスリット近接場光分布のコンボリューション解析

松下 任1、岸田 賢人1 (1.東京工業大学)

キーワード:フォトニクス、近接場光、近接場光学顕微鏡

原子センシング用近接場光ナノスリットの空間分解能を冷却原子のド・ブロイ波長に匹敵する30 nm以上に高めるために,スリットエッジの急峻化を進めている.一方SNOM観察ではプローブによる電磁場の散乱が原因となるノイズが観測上の問題となっている.今回このスリット上に誘起される近接場光におけるコンボリューション解析をフーリエ逆変換で行い、SNOM観察時のプローブによる散乱の影響を評価したので報告する.