[19p-G202-1~12] 12.2 Characterization and Materials Physics

[19p-G202-11] Formation of monoanions C₆₀^- and dianions C₆₀^2- at the interface with a low work function surface

〇Mizuki Sagami¹, Hiroyuki Yoshida¹ (1.Chiba univ.)

Keywords:organic semiconductor, photoelectron spectroscopy, interface

これまでに、我々は低エネルギー逆光電子分光法(LEIPS)を用いて、炭酸セシウムとC₆₀の空準位の界面電子準位接続を調べ、1価負イオンC₆₀⁻、2価負イオンC₆₀²⁻が生成することを示す結果を得た。本研究ではC₆₀の価数を確認するため、X線光電子分光法(XPS)を用いて化学シフトを調べ、界面付近にはC₆₀、C₆₀⁻、C₆₀²⁻が存在し、膜厚に依存して存在比が変化することが分かった。紫外光電子分光法（UPS）により測定したバンドの曲がりについても議論する。