[19p-G202-1~12] 12.2 評価・基礎物性

[19p-G202-11] 低仕事関数表面上のC₆₀の空準位と多価負イオンの生成：占有状態の観測

〇嵯神 美月¹、吉田 弘幸¹ (1.千葉大院工)

キーワード：有機半導体、光電子分光、界面

これまでに、我々は低エネルギー逆光電子分光法(LEIPS)を用いて、炭酸セシウムとC₆₀の空準位の界面電子準位接続を調べ、1価負イオンC₆₀⁻、2価負イオンC₆₀²⁻が生成することを示す結果を得た。本研究ではC₆₀の価数を確認するため、X線光電子分光法(XPS)を用いて化学シフトを調べ、界面付近にはC₆₀、C₆₀⁻、C₆₀²⁻が存在し、膜厚に依存して存在比が変化することが分かった。紫外光電子分光法（UPS）により測定したバンドの曲がりについても議論する。