2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

[20a-B401-1~6] 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

2018年3月20日(火) 10:30 〜 12:00 B401 (53-401)

山本 治朗(日立)

11:00 〜 11:15

[20a-B401-3] 電子線リソグラフィにおけるパターン形成の確率論的シミュレーション

香山 真範1、白井 正充1、川田 博昭1、平井 義彦1、安田 雅昭1 (1.大阪府大院工)

キーワード:電子線リソグラフィ、シミュレーション、レジストパターン

確率論的モデルに基づくシミュレーション手法を提案し,電子線リソグラフィにおけるパターン形成過程を再現した.ランダムに配置した粒子間に架橋結合を形成することでネガ型レジストの電子線露光をモデル化した.現像は仮定した分子量以下のポリマーをレジスト中より除去することでモデル化した.加速電圧や露光量に応じたパターン形状が再現された.また,パターン表面には分子構造を反映したラフネスが見られた.