2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20a-P2-1~17] 3.8 光計測技術・機器

2018年3月20日(火) 09:30 〜 11:30 P2 (ベルサール高田馬場)

09:30 〜 11:30

[20a-P2-1] ランダム雑音が距離情報特定点に及ぼす影響

韋 冬1、明田川 正人1 (1.長岡技大機)

キーワード:距離情報

2009年、日本の計量法に定められた長さの国家標準(特定標準器)がフェムト秒光周波数コム(以下、光周波数コム)へと変わった。隣接したパルス繰返し間隔長による長さ計測を実現するには、変形マイケルソン干渉計を提案している。干渉縞から距離情報を特定するために包絡線ピーク点または位相クロス点を用いる方法がある。本研究は数値計算を用いて、ランダム雑音が上記の距離情報特定点(つまり、包絡線ピーク点と位相クロス点)に及ぼす影響を調べる。