The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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3 Optics and Photonics » 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

[20a-P2-1~17] 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

Tue. Mar 20, 2018 9:30 AM - 11:30 AM P2 (P)

9:30 AM - 11:30 AM

[20a-P2-4] Properties of Disturbance Compensation in a Twin Michelson Interferometer

Kikyo Toshima1, Tetsuo Harimoto2 (1.Faculty of Eng., Univ. of Yamanashi, 2.Univ. of Yamanashi)

Keywords:Michelson interferometer, displacement measurement

マイケルソン・ツイン干渉計の外乱補償および変位計測への応用を試み,温度制御と防振設備を必要としない実験環境で,変位測定精度は数ナノメートルオーダーまで行えることが確認できた.この干渉計はレーザーの時間コヒーレンスのみならず空間コヒーレンスの計測も期待できる.