[20a-P2-1~17] 3.8 光計測技術・機器

[20a-P2-4] ツイン型マイケルソン干渉計の外乱補償特性

〇戸嶋 喜叶¹、張本 鉄雄² (1.山梨大工、2.山梨大院)

キーワード：マイケルソン干渉計、変位計測

マイケルソン・ツイン干渉計の外乱補償および変位計測への応用を試み，温度制御と防振設備を必要としない実験環境で，変位測定精度は数ナノメートルオーダーまで行えることが確認できた．この干渉計はレーザーの時間コヒーレンスのみならず空間コヒーレンスの計測も期待できる．