[20a-P7-1~37] 12.1 作製・構造制御

[20a-P7-33] 時分割X線反射率法を用いた有機薄膜試料の光変換の測定

〇(M1)溜池 祐太¹、Voegeli Wolfgang¹、荒川 悦雄¹、高橋 敏男¹、白澤 徹郎²、鈴木 充朗³、山田 容子³、松下 正⁴ (1.東京学芸大、2.産総研、3.奈良先端大、4.高エ研-PF)

キーワード：X線反射率、ペンタセン、光変換

ペンタセンの薄膜は光変換可能な前駆体によって作製される。時分割X線反射率測定により、ペンタセンへの光変換の過程を測定し、薄膜の温度が結晶化に及ぼす影響について研究した。