[20p-B301-1~13] 7.1 X線技術

△ [20p-B301-3] 宇宙X線観測用SOIピクセル検出器内部における、電荷雲形状の測定

〇(M2)児嶌 優一¹、平賀 純子¹、鶴 剛² (1.関学理工、2.京大理)

キーワード：X線、電荷雲、サブピクセル

次世代X線天文衛星搭載を目標に、SOI技術を応用したX線ピクセル検出器（XRPIX）が開発されている。我々は、画素よりも高い精度でX線入射位置を決定できるマルチコリメータ実験手法をXRPIXに適応し、画素内の様々な位置での信号応答を調べる実験を行った。その結果、X線入射位置に対する信号波高値の画素内変化を調べ、X線一光子により生成された電荷雲の拡がりを測定した。電荷雲形状の大きさは水平方向に5.4μm, 垂直方向に3.3μmとなった。