[20p-B303-1~8] 7.2 電子ビーム応用

[20p-B303-3] オフセットHAADF-STEMによる局在電場可視化

〇(B)菊池 優¹、鄭 サムエル¹、伊藤 良一¹、藤田 淳一¹ (1.筑波大理工)

キーワード：局在電場、可視化、電子線散乱

本研究では200keV-STEMによるオフセットHAADF検出器を用いた 局在電場可視化法を検討した。検出器をオフセットに設置し、微小角に散乱された電子線を検出することで、STEM像中で局在電場を明領域として可視化した。プローブ先端の局在電場可視化像と、同一条件における二次元電場シミュレーションはよく一致した。また、銀結晶先端に形成された微弱な局在電場を可視化することができた。