2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[20p-F202-1~9] 1.5 計測技術・計測標準

2018年3月20日(火) 13:45 〜 16:00 F202 (61-202)

野中 秀彦(産総研)

13:45 〜 14:00

[20p-F202-1] 真空紫外光による一光子イオン化計測:有機分子解離への影響

鈴木 淳1、永井 秀和1、中村 健1 (1.産総研)

キーワード:真空紫外光、光イオン化、質量分析