2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[20p-F202-1~9] 1.5 計測技術・計測標準

2018年3月20日(火) 13:45 〜 16:00 F202 (61-202)

野中 秀彦(産総研)

14:00 〜 14:15

[20p-F202-2] デュアルアウトプット・マッハツェンダ光変調器とフェムト秒パルスを用いた、マイクロ波位相雑音の高精度測定

〇(P)遠藤 護1、ショージ タイコ1、シブリ トーマス1,2,3,4 (1.コロラド大物理、2.米国標準技術研究所、3.宇宙物理複合研究所、4.コロラド大)

キーワード:位相雑音、フェムト秒レーザー、超低位相雑音

マイクロ波の位相雑音を-186 dBc/Hzという感度で測定する手法を開発した。参照となるフェムト秒パルス列と、測定対象のマイクロ波を、デュアルアウトプット・マッハツェンダ光変調器で位相比較する。測定器自体の雑音は、クロススペクトラム法により効率的に取り除かれる。