[19a-B11-1~9] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

[19a-B11-2] [講演奨励賞受賞記念講演] 物理的に形成された量子ドットを用いたRF反射測定

〇溝口 来成¹、Bugu Sinan¹、田所 雅大¹、小寺 哲夫¹ (1.東工大工)

キーワード：量子ドット、シリコン、RF反射測定

量子コンピュータ実現に向けシリコン量子ドットを用いたスピン量子ビットが盛んに研究されている。本研究では、物理形成シリコン量子ドットデバイスを用いて、スピン量子ビットの読み出しに向けた広帯域・高速なRF反射測定を行った。LC共振回路を量子ドットにつなげ、共振するRF波を印加することで、ゲート電圧を変化させたとき、量子ドットの抵抗の変化に対応した反射率の変化の観測に成功した。