[19a-C213-1~7] 2.2 Detection systems

[19a-C213-7] Sensitivity improvement of line detector for backscattered X-ray inspection

〇Toshiki Matsue¹, Atsushi Yamazaki¹, Kenichi Watanabe¹, Sachiko Yoshihashi¹, Akira Uritani¹, Hiroyuki Toyokawa², Takeshi Fujiwara², Shinichi Mandai³, Hidenori Isa³ (1.Nagoya Univ., 2.AIST, 3.BEAMX Corp)

Keywords:back scatter X-ray, detector

社会インフラ設備の長期保守管理をより効率的に行うことができる非破壊検査手法の一つに後方散乱X線検査がある。この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査が可能である。本研究ではコリメータ等の重量物を稼働させずに1次元プロファイルを取得できるファンビームX線方式を採用し、ファンビームX線に直行する平行平板コリメータで散乱位置を限定している。先行研究で製作された検出器の要素検討を行いシンチレータと発光取得体系の変更した新たな検出器を製作した。
製作した検出器と先行研究の信号対ノイズ比を比較したところ感度が5倍ほど向上した。