[19p-PB9-1~24] 12.6 ナノバイオテクノロジー

[19p-PB9-21] 脂質二重膜を構成するリン脂質分子の電子状態計測

Goh WeiZheng¹、長坂 将成²、中村 慎¹、佐野 友美¹、〇手老 龍吾¹ (1.豊橋技科大、2.分子研)

キーワード：脂質二重膜、X線吸収分光

脂質二重膜へのNa⁺, K⁺, Ca²⁺などのイオンの配位は、膜電位の起源であるとともに、脂質二重膜の物性や構造により直接的に影響を及ぼす要因でもある。水溶液中でのX線吸収分光(XAS)計測によって脂質分子の電子状態を調べることで、脂質膜へのイオン配位の描像を明らかにすることが本研究の目的である。O-K端XASスペクトルで530-533 eVの範囲にリン脂質由来の成分を計測することに成功した。