2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20p-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2019年9月20日(金) 13:45 〜 17:00 E205 (E205)

西山 道子(創価大)、瀬戸 啓介(東理大)

14:15 〜 14:30

[20p-E205-3] マイケルソン干渉計を用いた散乱光測定システムの動作確認

菅井 一生1、村上 泰基1、鈴木 孝昌2、上原 知幸3、川村 静児4、阿久津 智忠5、佐藤 孝2、大河 正志2 (1.新潟大院自然、2.新潟大工、3.防衛大通信工、4.名古屋大院理、5.国立天文台)

キーワード:散乱光測定、マイケルソン干渉計、KAGRA

KAGRAは巨大なマイケルソン干渉計で,重力波の直接検出をめざしている。KAGRAにおける雑音の一つに,光学素子等から生じる散乱光雑音があり,KAGRAにおける最終的な残留雑音の候補となっている。そのため,KAGRAの光学素子等の散乱光評価は重要である。そこで,マイケルソン干渉計を用いた,加振状態にある散乱体の散乱光測定法を考案したので,その方法と検証実験の結果について報告する。