[21a-B01-1~10] 23.1 Joint Session N "Informatics"

[21a-B01-9] Feature extraction and spatial mapping of synchrotron radiation X-ray diffraction pattern (II)

〇Kentaro Kutsukake¹, Takefumi Kamioka², Takashi Segi³, Takuo Sasaki⁴, Seiji Fujikawa⁴, Masamitu Takahasi⁴ (1.AIP, RIKEN, 2.Meiji Univ., 3.KOBELCO Res. Inst., 4.QST)

Keywords:machine learning, mapping, X-ray diffraction

近年、実験・計測機器の性能向上に伴い、得られる計測データの量は飛躍的に増加しており、得られた大量データを有効活用し、測定対象に関する情報を余すことなく抽出することが求められている。我々は、X線回折パターンの試料表面でのマッピングを対象とし、機械学習によって多数の複雑なパターンから特徴を抽出し、マッピングに応用することを検討している。今回、新たに得られた特徴量成分に対して検討・考察を行ったので報告する。