[21a-B12-1~8] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[21a-B12-1] Comparison of PID behaviors of rear- and front-emitter SHJ PV modules

〇(PC)Seira Yamaguchi¹, Chizuko Yamamoto², Keisuke Ohdaira¹, Atsushi Masuda² (1.JAIST, 2.AIST)

Keywords:Photovoltaic modules, Potential-induced degradation, Reliability

本研究では，リアエミッター（RE）型およびフロントエミッター（FE）型のn型SHJ太陽電池モジュールのPID挙動を比較した．両者とも，PID試験の初期段階において，短絡電流の低下によって特徴づけられる第一劣化を示した．一方で，その後の第二劣化に関しては，RE型は短絡電流および開放電圧の低下を生じたのに対し，FE型は主に曲線因子の低下に特徴づけられる劣化を示すことがわかった．