15:45 〜 16:00 △ [10p-W934-9] TID影響下におけるMOSFETの動的特性劣化モデルの開発 〇大島 佑太1、安藤 幹1、平川 顕二1、岩瀬 正幸1、小笠原 宗博1、依田 孝1、石原 昇1、伊藤 浩之1 (1.東工大)