16:30 〜 16:45 [10p-W833-13] アモルファスGe40S60薄膜の光酸化現象 -X線・中性子反射率法による光酸化膜の観測- 〇坂口 佳史1、花島 隆泰1、青木 裕之2、アルアミン サイモン3、マリア ミトコバ3 (1.CROSS、2.原子力機構、3.ボイジー州立大学)