14:00 〜 14:15 △ [11p-W641-2] コンダクタンス法を用いたシリコン窒化膜表面近傍のプラズマ誘起ダメージ構造の解析 〇久山 智弘1、占部 継一郎1、江利口 浩二1 (1.京大院工)