The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

Exhibitors' information

[A-13] Nanometrics Japan

Nanometrics Japan

■エレクトロケミカルCVプロファイラー
■ホール効果測定装置
■フォトルミネッセンスマッピングシステム
■FT-IRシステム ■分光反射率式膜厚測定システム
  • Address

    141-0031
    東京都品川区西五反田8-9-5 ポーラ第3五反田ビル

  • Tel

    03-5745-9305

  • Web site, SNS

    http://www.nanometrics.com/